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ISQI CTAL-TTA_001

CTAL-TTA_001

試験コード:CTAL-TTA_001

試験名称:ISTQB Certified Tester Advanced Level - Technical Test Analyst (CTAL-TTA_001)

最近更新時間:2026-08-11

問題と解答:全65問

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ISQI CTAL-TTA_001 試験シラバストピック:

セクション目標
レビュー- レビュープロセスと役割
- 静的テスト技法
ライフサイクルにおけるテクニカルテストアナリストのタスク- 結合テストおよびシステムテストの支援
- 不具合分析と報告
テスト技法- 経験ベースドテスティング技法
- ホワイトボックステスト設計技法
- ブラックボックステスト設計技法
テストツールと自動化- テスト自動化アーキテクチャ
- ツールの選定と評価
リスクベースドテスティング- リスク分析技術
- リスクに基づくテスト優先順位付け
非機能テスト- パフォーマンステスト
- セキュリティテストの基礎
- ユーザビリティテストおよび信頼性テスト

ISQI ISTQB Certified Tester Advanced Level - Technical Test Analyst (CTAL-TTA_001) 認定 CTAL-TTA_001 試験問題:

1. The development manager asks you to identify suitable test coverage entry criteria for a component test. Which TWO of the following would you recommend as appropriate for entry criteria to a component testing phase? 2 credits [K3]
Number of correct answers: 2

A) 100% statement coverage
B) No critical outstanding defects
C) Static analysis shows no major violations
D) Test log available
E) Code review completed


2. To address the second risk mentioned in the scenario, security testing will be performed. Which test techniques would be most applicable for security testing? 1 credit [K2]
Number of correct answers: 1

A) Boundary Value Analysis
B) Statement Testing
C) Fault Attacks
D) Use Cases


3. Which TWO of the following artefacts can be useful as a test oracle the first time a test case is run? 1 credit [K2]
Number of correct answers: 2

A) Requirements Specification
B) Test plan
C) Test summary report
D) Incident report
E) Legacy system


4. Defects are discovered through test analysis and design because... 1 credit [K2]
Number of correct answers: 1

A) the author of the test basis will have made errors
B) the cost of fixing a defect will increase if found later on
C) the tasks involve extracting information from the test basis
D) developers are involved in writing test cases


5. As part of a risk analysis, technical risks are analyzed. Which TWO factors influence technical risk? 1 credit [K2]
Number of correct answers: 2

A) Lack of reasonable workaround
B) Complexity of technology
C) Frequency of use of the affected failure
D) Interfacing and integration issues
E) Damage to image


質問と回答:

質問 # 1
正解: C、E
質問 # 2
正解: C
質問 # 3
正解: A、E
質問 # 4
正解: C
質問 # 5
正解: B、D

CTAL-TTA_001 関連試験
CTAL-TTA-001-Deutsch - ISTQB Certified Tester Advanced Level - Technical Test Analyst (CTAL-TTA-001 Deutsch Version)
CTAL-TM-UK - ISTQB Certified Tester Advanced Level - Test Manager (CTAL-TM_UK)
CTFL-001 - ISTQB Certified Tester Foundation Level
CTAL-TTA-001 - ISTQB Certified Tester Advanced Level - Technical Test Analyst (CTAL-TTA_001)
CTAL-TM_Syll2012 - ISTQB Certified Tester Advanced Level - Test Manager [Syllabus 2012]
CTAL-TTA_001 - ISTQB Certified Tester Advanced Level - Technical Test Analyst (CTAL-TTA_001)
関連する認定
Agile Technical Tester
iSQI TMMi
ISQI CPSA-F
AI Testing
ISQI Certification
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