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| トピック | 出題範囲 |
|---|
| トピック 1 | - Differences between Closed-Loop and Open-Loop (K2)
- Contribution of the tester to the safety culture
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| トピック 2 | - Classification of the XiL test environments (MiL, SiL, HiL) in the general V-model
- The influence of criticality on the extent of the test (K2)
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| トピック 3 | - Influence of AUTOSAR on the work of the tester (K1)
- Application areas and boundary conditions of a HiL test environment
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| トピック 4 | - Essential interfaces, databases and communication protocols of a electronic control unit (K1)
- Requirements of the standard (K3)
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| トピック 5 | - Context-dependent selection of test techniques (K3)
- Objective of functional safety for E
- E systems
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| トピック 6 | - Advantages and disadvantages oftesting in the XiL test environments
- Integration of the tester in the safety lifecyle (K2)
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| トピック 7 | - Verification strategy and criteria for unit verification (SWE.4)
- Motivation for a test environment in the automotive development (K1)
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| トピック 8 | - Structure and test specific parts of the standard (K1)
- The contribution
- participation of the tester in the release process (K1)
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| トピック 9 | - Application areas and boundary conditions of a SiL test environment
- Automotive-specific static and dynamic test techniques
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